非全新牛津鍍層測厚儀CMI900系列銷售

 

CMI900是一臺高精度、快速、無損、微聚焦能量射散型X射線熒光鍍層厚度和元素分析系統(tǒng)，可分析的鍍層元素為元素周期表上22TI到92U,牛津儀器基于WINDOWS XP操作系統(tǒng)開發(fā)了Smartlink? FP測量軟件和LE報告生成器）

 

CMI900用于鍍層厚度測量以及分析鍍層金屬成分、鍍液，是一款專用鍍層測厚儀、（印制線路板之金/鎳、錫/鉛、錫/銀等）的非破壞性精確測量及材料成分分析。

 

CMI900鍍層測厚儀用途：

 

1.多鍍層金屬厚度測

 

2.合金鑒定及化學分析

 

3.電鍍液分析

 

4.金成色分析

 

 

應用X射線熒光原理測量，精確度高且不破壞樣品。

 

NIST（美國國家標準和技術學會）認可的標準片。

 

CMI900系列膜厚測試儀能夠測量多幾種形狀，各種尺寸的樣品；并且測量點*小可達0.025×0.051毫米。

 

CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選擇用，分別為：標準樣品臺，XY軸固定，Z軸自動控制；擴展型標準樣品臺，XY軸固定，Z軸自動控制；可調高度型標準樣品臺，XY軸手動控制、Z軸自動控制；程控樣品臺，XYZ軸自動控制；超寬程控樣品臺，XYZ軸自動控制。

 

 

測量元素：22（TI）-92（U）

 

測量層數(shù)：5層（4層鍍層+基材層）

 

X射線管功率：50W

 

X射線管靶材：鎢

 

可安裝準直器數(shù)量：4個

 

外形尺寸：610*1037*375mm（自動標準臺）

 

非破壞性鍍層測厚儀

 

深圳市譜賽斯科技有限公司提供CMI900鍍層測厚儀,CMI700涂層鍍層測厚儀,CMI500銅厚測厚儀,CMI165等涂鍍層測厚儀,元素分析儀,無損檢測測厚儀.是中國大陸的牛津儀器一級代理,專業(yè)銷售維修:CMI900 X-Strata920 FT系列等各種型號涂鍍層測厚儀,擁有一支經驗豐富的服務團隊,為客戶提供及時,優(yōu)質的售前/售后服務和技術支持。